Учитывая научно - технические характеристики данных моделей, сканирующие зондовые микроскопы помогают решать очень важные задачи различного профиля, чем заслужили к себе особое внимание.
Особенности сканирующего зондового микроскопа:
-
возможность очень точного определения и изучения структурных особенностей и свойств различных материй (электронные, электрические, механические). При этом есть возможность исследования в различной среде, например, в вакуумной, в жидкости (растворах), воздушной;
-
исследуемая информация будет наглядно изображена в полном и точном соответствии с её параметрами;
-
молекулярные, атомные структурные площади, которые будет возможность увидеть и оказать определённые воздействия на них с помощью молекулярных и атомных воздействий. Наличие разрешения данных моделей микроскопов даёт шанс достичь показателей в тысячную долю нанометров относительно образцов и показатели в сотую долю нанометра.
Модификации зондовых микроскопов
Отличительные особенности различных модификаций данного микроскопа - это использование микрозонда различных вариаций и конструкторских особенностей, который позволяет измерить локальную структуру и характеристику параметров различных типов поверхностей. Например, туннельный вариант микроскопа тщательно исследуют поверхность с применением тока, возникающего между образцом и рабочей иглой. Атомно - силовая модификация зондирующего микроскопа способна контролировать усилие взаимодействия образца с остриём рабочей иглы.
В модификациях микроскопов оптической направленности, зонд применяется в форме оптического волокна с диафрагмой, имеющей миниатюрные размеры. В процессе сканирующих исследований образцов, поверхность диафрагмы перемещается при помощи манипулятора вдоль поверхности образца. Проходящее через диафрагму излучение лазерного источника способствует освещению исследуемой поверхности образцов. В микроскопах данных моделей регистрируются переизлучённая или рассеянная разновидности света.
Учитывая то, что процесс рассеивания проходит в непосредственной близости от исследуемых поверхностей, удаётся преодолевать ограниченность обычных микроскопов, благодаря чему становятся заметными детальные особенности поверхностей, размер которых достигает целых десятков нанометров.
Высокие научно - технические показатели сканирующих зондовых микроскопов позволяют исследовать и изучать различные типы образцов, благодаря чему они очень широко используются в различных областях и в научно - исследовательских центрах.
Источник imc-systems.ru
"