Данный прибор позволяет проводить неразрушающий контроль, быстрый анализов примесных материалов, измерения толщин многослойных покрытий и элементного состава.
Испытания показали, что ядерно-физический метод, оказался единственно возможным для контроля толщины тонких покрытий в пределах от 5 до 10 мкм, с погрешностью ± 0,1 мкм.
"